產(chǎn)品簡介 射頻導(dǎo)納料位計(jì)是目前物位控制器跨世紀(jì)的前衛(wèi)替代產(chǎn)品，適用于測(cè)量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點(diǎn)輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產(chǎn)品采用適當(dāng)頻率的射頻信號(hào)，同時(shí)對(duì)電容、電阻、電感進(jìn)行檢測(cè)，消除了采用電容式技術(shù)而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動(dòng)、攪拌、或狹小的空間場(chǎng)所的測(cè)量。導(dǎo)納式物位開關(guān)為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
產(chǎn)品簡介 射頻導(dǎo)納料位計(jì)是目前物位控制器跨世紀(jì)的前衛(wèi)替代產(chǎn)品，適用于測(cè)量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點(diǎn)輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產(chǎn)品采用適當(dāng)頻率的射頻信號(hào)，同時(shí)對(duì)電容、電阻、電感進(jìn)行檢測(cè)，消除了采用電容式技術(shù)而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動(dòng)、攪拌、或狹小的空間場(chǎng)所的測(cè)量。導(dǎo)納式物位開關(guān)為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
產(chǎn)品簡介 射頻導(dǎo)納料位計(jì)是目前物位控制器跨世紀(jì)的前衛(wèi)替代產(chǎn)品，適用于測(cè)量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點(diǎn)輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產(chǎn)品采用適當(dāng)頻率的射頻信號(hào)，同時(shí)對(duì)電容、電阻、電感進(jìn)行檢測(cè)，消除了采用電容式技術(shù)而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動(dòng)、攪拌、或狹小的空間場(chǎng)所的測(cè)量。導(dǎo)納式物位開關(guān)為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
產(chǎn)品簡介 射頻導(dǎo)納料位計(jì)是目前物位控制器跨世紀(jì)的前衛(wèi)替代產(chǎn)品，適用于測(cè)量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點(diǎn)輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產(chǎn)品采用適當(dāng)頻率的射頻信號(hào)，同時(shí)對(duì)電容、電阻、電感進(jìn)行檢測(cè)，消除了采用電容式技術(shù)而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動(dòng)、攪拌、或狹小的空間場(chǎng)所的測(cè)量。導(dǎo)納式物位開關(guān)為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
產(chǎn)品簡介 射頻導(dǎo)納料位計(jì)是目前物位控制器跨世紀(jì)的前衛(wèi)替代產(chǎn)品，適用于測(cè)量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點(diǎn)輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產(chǎn)品采用適當(dāng)頻率的射頻信號(hào)，同時(shí)對(duì)電容、電阻、電感進(jìn)行檢測(cè)，消除了采用電容式技術(shù)而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動(dòng)、攪拌、或狹小的空間場(chǎng)所的測(cè)量。導(dǎo)納式物位開關(guān)為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
產(chǎn)品簡介 射頻導(dǎo)納料位計(jì)是目前物位控制器跨世紀(jì)的前衛(wèi)替代產(chǎn)品，適用于測(cè)量液體、固體的位置高度,它提供DPDT的接點(diǎn)輸出,并且不受物料附著與探棒的影響。此產(chǎn)品采用適當(dāng)頻率的射頻信號(hào)，同時(shí)對(duì)電容、電阻、電感進(jìn)行檢測(cè)，消除了采用電容式技術(shù)而無法避免的虛物位等誤差，且有多種不同形式。可適用于高溫振動(dòng)、攪拌、或狹小的空間場(chǎng)所的測(cè)量。導(dǎo)納式物位開關(guān)為了克服附著物的影響，特別于主電極與接地電極間多增加
